W wielu obszarach stawiane są coraz wyższe wymagania dotyczące jakości i wyglądu powierzchni. Zwłaszcza w przypadku błyszczących i odblaskowych powierzchni oczekuje się nienagannej, wysokiej jakości produkcji. Części są często poddawane ręcznej kontroli, co może prowadzić do przeoczenia defektów ze względu na zmęczenie inspektorów.
reflectCONTROL został zaprojektowany specjalnie w celu spełnienia wysokich wymagań jakościowych, które zapewniają wysoką jakość błyszczących powierzchni. System oparty na deflektometrii rzutuje pasiasty wzór na mierzony obiekt. Defekty na powierzchni powodują odchylenia od wzoru w paski, które są rejestrowane przez kamery i oceniane przez oprogramowanie.
Właściwości:
- Kontrola odbijających i błyszczących powierzchni
- Identyfikacja najdrobniejszych wad i odchyleń
- Spójny i powtarzalny wskaźnik identyfikacji
- Pomiary o wysokiej precyzji, odchylenie płaskości w zakresie submikronowym
- Duże pole pomiarowe 170x160 mm
Czujnik deflektometryczny do pomiarów 3D błyszczących powierzchni
System reflectCONTROL RC130 jest przeznaczony do pomiaru kształtu błyszczących obiektów. Czujnik wyświetla wzór w paski, który jest odzwierciedlany przez powierzchnię mierzonego obiektu w kamerach czujnika. System zapewnia trójwymiarowy obraz powierzchni, który pozwala określić topologię elementów (np. płaskość, ugięcie, krzywiznę). Model RCS130 jest specjalnie zoptymalizowany do zadań pomiarowych i kontrolnych, np. na liniach produkcyjnych. Ponadto czujnik wyposażony jest w interfejs GigE Vision, który oferuje dane zgodne z GenICam.
Kontrola powierzchni błyszczących elementów
reflectCONTROL RCS110-245 ze zintegrowanym sterownikiem przeznaczony jest do pomiarów stacjonarnych lub integracji z maszynami. Ten kompaktowy czujnik wykrywa anomalie na błyszczących powierzchniach, które są przetwarzane i wyświetlane przez oprogramowanie jako odbicie i krzywizna obrazu. GigE Vision umożliwia przesyłanie obrazów powierzchni do szerokiej gamy pakietów oprogramowania do przetwarzania obrazu w celu dalszych analiz.
Wygodny interfejs użytkownika
Oprogramowanie 3D-View oferuje łatwy w obsłudze interfejs użytkownika dla czujników reflectCONTROL. Oprogramowanie umożliwia szybkie uruchomienie i kalibrację czujnika. Oferuje między innymi konfigurację i optymalizację parametrów, zapewnia również prawidłowe pozycjonowanie mierzonego obiektu i czujnika.
Możliwe jest także tworzenie i zarządzanie zestawami parametrów dla różnych zadań pomiarowych. Oprogramowanie może być też użyte do rozpoczęcia akwizycji danych. Uzyskane obrazy są wizualizowane i można je zapisać do dalszego przetwarzania. Oprogramowanie 3D-View jest szczególnie przydatne dla integratorów systemów, ponieważ dostarcza ważnych informacji:
Integratorzy mają dostęp do wszystkich parametrów GenICam, co znacznie upraszcza integrację oprogramowania. W przypadku zastosowań inline wyświetlanie czasu trwania pomiaru umożliwia wyciągnięcie wniosków na temat czasu cyklu.
Integracja oprogramowania za pośrednictwem SDK 3D firmy Micro-Epsilon
System reflectCONTROL jest wyposażony w łatwy do integracji SDK (Software Development Kit). SDK jest oparty na standardach branżowych GigE Vision i GenICam, w tym na następujących blokach funkcyjnych:
- Konfiguracja sieci i podłączenie czujnika
- Kompleksowe sterowanie czujnikami
- Kontrola transferu obrazu
- Zarządzanie zestawami parametrów zdefiniowanych przez użytkownika
- Przykładowe programy i dokumentacja w C ++
- Dostęp do czujnika przez GigE Vision jest również możliwy bez SDK, w przypadku posiadania klienta GenICam.
Karta katalogowa reflectCONTROL