Ten czujnik ma największą plamkę pomiarową, umożliwiając bardziej zmienne pozycjonowanie próbek testowych pod czujnikiem. Ponadto pomiary mogą być wykonywane na większym oświetlonym obszarze.
Ten czujnik ma największą plamkę pomiarową, umożliwiając bardziej zmienne pozycjonowanie próbek testowych pod czujnikiem. Ponadto pomiary mogą być wykonywane na większym oświetlonym obszarze.
Karta katalogowa czujników MFS
Model 3D czujnika MFS10
